采用線掃描方式檢測整面薄膜 硬件軟件均為**設(shè)計 作為專業(yè)膜厚測定廠商，提供多種支援 實(shí)現(xiàn)高精度測量（已獲取**） 實(shí)現(xiàn)高速測量 不受偏差影響
產(chǎn)品信息
特點(diǎn)
● 采用線掃描方式檢測整面薄膜
● 硬件&軟件均為**設(shè)計
● 作為專業(yè)膜厚測定廠商，提供多種支援
● 實(shí)現(xiàn)高精度測量（已獲取**）
● 實(shí)現(xiàn)高速測量
● 不受偏差影響
● 可對應(yīng)寬幅樣品（TD方向*大可測量10m） 規(guī)格