憑借20% 光電轉(zhuǎn)換效率，混合鈣鈦礦太陽能電池被認為是下一代光伏的候選者。 由于 HORIBA Scientific 產(chǎn)品組合廣泛，因此可以使用不同的技術(shù)來深入了解這類材料的光電特性和機制。 在本應用說明中，我們決定使用橢偏、穩(wěn)態(tài)和時間分辨熒光以及輝光放電發(fā)射光譜來研究沉積在旋涂 PEDOT:PSS 上的 CH3NH3PbI3 薄膜，并且解決了材料暴露在空氣中的影響。

HORIBA堀場橢圓偏振光譜儀／鈣鈦礦太陽能電池表征解決方案光譜范圍從FUV到NIR：190-2100nm
UVISEL Plus橢圓偏振光譜儀為先進薄膜、表面和界面表征提供了模塊化和性能的優(yōu)化組合。
UVISEL Plus作為一款高準確性、高靈敏度、高穩(wěn)定性的經(jīng)典橢偏機型，它采用了PEM 相位調(diào)制技術(shù)，與機械旋轉(zhuǎn)部件技術(shù)相比， 能提供更好的穩(wěn)定性和信噪比。光譜范圍從190nm到2100nm。
UVISEL Plus集成了全新的FastAcqTM快速采集技術(shù)，可在3分鐘以內(nèi)實現(xiàn)高分辨的樣品測試（190-2100 nm），校準僅需幾分鐘。基于全新的電子設備，數(shù)據(jù)處理和高速單色儀，F(xiàn)astAcq技術(shù)能夠為用戶提供高分辨及快速的數(shù)據(jù)采集。FastAcq專門為薄膜表征設計，雙調(diào)制技術(shù)可以確保您獲得優(yōu)異的測試結(jié)果。
相位調(diào)制技術(shù)的獨有特點為高頻調(diào)制 50 kHz，信號采集過程無移動部件：
測試全范圍的橢偏角，Ψ (0-90)，Δ (0-360)
從FUV到NIR具有優(yōu)良的信噪比
數(shù)據(jù)采集速度快，高達50毫秒/點，是動力學研究和在線測量的理想選擇
相比于采用 旋轉(zhuǎn)元件調(diào)制的傳統(tǒng)橢圓偏振光譜儀，UVISEL Plus的相位調(diào)制模式在表征薄膜方面具有更高的靈敏度和精度。它不僅可以探測到其他橢偏儀無法觀測到的極薄膜或界面，還可以表征50μm的厚膜。
在測試有背反射的透明樣品時，測試簡單、準確，無需刮花背面。
UVISEL Plus還設計有多種附件及可選功能，便于客戶根據(jù)應用需求及預算選擇合適的配置。比如，微光斑用于圖案樣品、自動變角器、自動樣品臺等。
UVISEL Plus采用模塊化設計，可靈活擴展。即可用于離線臺式測量，也可以耦合于鍍膜設備做在線監(jiān)控。
UVISEL Plus可根據(jù)習慣選擇操作界面，一個是 DeltaPsi2  具有建模和擬合處理功能；另一個是 Auto-Soft 用戶導向的全自動樣品測試界面 ，工作流程直觀，易于非專業(yè)人士操作。
UVISEL Plus搭載FastAcq技術(shù)是材料研究和加工、平板顯示、微電子和光伏領(lǐng)域中優(yōu)選通用光譜型橢偏儀。
UVISEL Plus是材料科學研究的理想工具。
事業(yè)部: 科學儀器
產(chǎn)品分類: 橢圓偏振光譜儀
制造商: HORIBA France SAS
小結(jié)一，鈣鈦礦材料井噴式研究的出現(xiàn)主要有兩個原因，其一，也是決定性的，是鈣鈦礦材料在太陽能電池上的優(yōu)異性能，具備重大的應用潛力。如果后續(xù)研究證實其現(xiàn)在穩(wěn)定性差或其它缺點無法克服，這個領(lǐng)域會和曾經(jīng)的碳納米管，石墨烯一樣迅速無人問津。其二，無機納米材料如量子點等三十年的發(fā)展提供了充足的制備技術(shù)(如熱注法，陰陽離子交換，金屬摻雜，點，線，片多種構(gòu)型，X,Y,Z,熵配體)和相應理論支撐，這些被迅速的應用到鈣鈦礦材料領(lǐng)域，出現(xiàn)大量的研究成果。

小結(jié)二，在長達一百年的研究中，鈣鈦礦構(gòu)型材料曾被應用到超導，光電轉(zhuǎn)化，電催化，LED等各種領(lǐng)域，基于目前更好的材料理解，可以對這些領(lǐng)域重新進行探索。

小結(jié)三，可以看出20世紀初，在鈣鈦礦領(lǐng)域內(nèi)，歐洲的科學研究是主導的，20世紀40年代后，美國開始占據(jù)重要地位，20世紀70年代后，日本開始嶄露頭角。這些科學研究的統(tǒng)治力是和國家實力的消長同步的。作為一名博士，希望中國繼續(xù)發(fā)展下去，帶動下一個時代的科技發(fā)展。

HORIBA堀場橢圓偏振光譜儀／鈣鈦礦太陽能電池表征解決方案產(chǎn)品優(yōu)勢

• 高精度和高靈敏度
• 模塊化設計
• 寬光譜范圍： 190-2100 nm
• 集數(shù)據(jù)測量、建模和自動化操作為一體的軟件包

HORIBA堀場橢圓偏振光譜儀／鈣鈦礦太陽能電池表征解決方案獲得的信息

• 膜層厚度，從1?到50 μm
• 表面和界面粗糙度
• 光學常數(shù) (n,k) ，適用于各向同/異性和漸變層
• 光學特性如：吸收系數(shù)α, 光學帶隙Eg
• 材料性能：合金成分、孔隙率、結(jié)晶度及形貌等
• 穆勒矩陣
• 退偏